IC-241B-1 MİNİ TEST KLİP

Mini Test Klipsi (Yaylı Kancalı SMD Entegre ve Sinyal Test Kancası)

Elektronik Kart Onarımı, Lojik Analizör Sinyal Takibi, Osiloskop Ölçümleri ve Prototip Devreler İçin Yaylı Kancalı Mini Test Klipsi!

Dar aralıklı SMD entegre (IC) bacaklarına, direnç/kondansatör terminallerine veya kart üzerindeki test noktalarına güvenli bir şekilde tutunarak eller serbest ölçüm yapmayı sağlayan Mini Test Klipsi, hassas yaylı mekanizması ve minyatür kancalı ucu ile öne çıkar.

Üst kısımdaki butona basıldığında ucundaki ince altın kaplama/bakır alaşımlı çift tırnaklı mikro kanca dışarı çıkar; komponent bacağına yerleştirilip bırakıldığında güçlü yay mekanizması sayesinde tırnak kapanarak devre elemanını sıkıca kavrar. Arka kısmındaki terminal kapağı sökülerek kablo doğrudan lehimlenebilir veya jumper kablo ucuyla hızlıca bağlanabilir.

Öne Çıkan Özellikler

• Yaylı Mikro Kanca Tasarımı: Entegre bacaklarına ve ince kablolara kaymadan, sağlam ve stabil tutunma.

• Eller Serbest (Hands-Free) Ölçüm: Prob tutma zorunluluğunu ortadan kaldırarak güvenli sinyal takibi ve osiloskop ölçümü.

• Kısa Devre Korumalı İnce Uç: Bitişik entegre bacaklarına temas etmeyen dar profilli izole uç yapısı.

• Sökülebilir Arka Kapak: Kabloyu doğrudan lehimleme veya pin takma imkanı sunan pratik arka bağlantı haznesi.

• Hafif ve Dayanıklı Gövde: Kart üzerine ağırlık yapmayan, esnek ve yüksek yalıtımlı mühendislik plastiği.

Teknik Özellikler

• Ürün Tipi: Mini Grabber / IC Hook Test Klipsi (Yaylı Kancalı Test Ucu)

• Kanca Malzemesi: Yüksek İletkenlikli Pirinç / Bakır Alaşım

• Gövde Malzemesi: Dayanıklı ABS / Naylon Yalıtkan Plastik

• Renk Seçenekleri: Kırmızı / Siyah

• Bağlantı Tipi: Arka Terminal Lehimleme veya Dupont/Jumper Kablo Girişi

• Maksimum Gerilim / Akım: 30V AC - 60V DC / 5A (Sinyal Seviyesi)

• Toplam Boyut: Yaklaşık 58 mm

Kullanım Alanları

• USB Lojik analizör (Logic Analyzer) sinyal hatları ve protokol testleri (I2C, SPI, UART)

• Osiloskop ve multimetre ile SMD kart üzerinde hands-free sinyal izleme

• Mikrodenetleyici (Arduino, STM32, PIC, ESP32) devre bacak testleri

• Cep telefonu, tablet ve bilgisayar anakart onarım süreçleri

• Ar-Ge laboratuvarları ve prototipleme projeleri